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荧光x射线分析中的两大误区

更新时间:2015-07-08       点击次数:2251

误区1:标样制备太麻烦,用无标样法

       荧光x射线分析事实上是一种对比分析,特别是经验系数法,测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系*是建立在标准样品的基础之上的,必须制备足够数量的标准样品,标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。基本参数法等无标样分析法一般是用于*未知样品的初步分析的,所谓无标样也只是不需要系列标准样而已。

误区2:标准样品可以购买别人的

      由于每个用户的原料情况、配比是各不相同的,而对于X荧光分析而言,标样与被测未知样越相似,测定结果越好,因此,为了取得好的分析结果,各用户应自己配制标样。标样的配置应注意几个问题:

a、必须主要用生产用原料配制,个别少量组份可用化学试剂;

b、标样数目应大于被分析元素个数(至少多两个);

c、标样中被测元素的含量范围应*覆盖未知样品相应元素的浓度变化范围;

d、标样中各被测元素的浓度之间不应存在相关性。

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