X射线荧光光谱仪的组成及XRF分析特点

一、X射线荧光光谱仪的组成

1、X射线发射系统：主要部件是X射线管，在高压和电流作用下，产生出*强度X射线，用于激发样品。

2、冷却系统：用于冷却产生大量热的X射线管，X射线的发生效率为0.2%。X射线管消耗的电能几乎全部转化为热量，因此，在X射线管工作时，必须保证冷却系统运转正常。

3、样品传输系统：将放置在样品盘中的样品传输到测定位置。分光检测系统：把样品产生的X射线荧光用分光元件和检测器进行分光、检测。

4、计数系统：统计、测量检测器检测出的信号，同时也可以除去过强的信号和干扰线。

5、真空系统：将样品传输系统和分析检测系统抽成真空，使检测在真空中进行，避免强度的吸收损失控制和数据

6、处理系统：对各部分进行控制，并处理统计测量的数据，进行定性、定量分析，打印结果。

三、XRF分析的特点

    X射线荧光光谱在元素的定性和定量分析中得到广泛应用，它的突出特点是：

（1）谱线简单，多元素间干扰比发射光谱小，除少数轻元素外，它基本不受化学键和元素在化合物中状态影响；

（2）分析灵敏度高，大多数元素检出限达到10-5-10-8g/g;分析元素的范围宽，从硼到铀（5-92）元素都可以分析，常用的元素分析范围是氟到铀（9-92）

（3）定量分析响应范围宽，从常量到微量mg/kg

（4）分析方法的精密度高，误差一般在5%以内；

（5）制样简单，固体、粉末和液体样品都可测定，样品在分析中不受破坏，属于无损分析法；

（6）多元素同时分析，分析自动化程度高，分析速度快，几分钟内可同时给出一个样品种所含的几十种元素的定性、定量分析；

（7）仪器分析计算机操作，计算机计算输出元素百分含量结果。