由于产生误差的原因不同,能量色散型X荧光光谱仪各种误差具有不同的性质,显示出不同的基本特征。通常将误差分为系统误差、随机误差与过失误差三类。
(1)系统误差
由于在
能量色散型X荧光光谱仪测定过程中某些固定的原因,造成测定结果经常性偏高或偏低,出现比较恒定的正误差或负误差,这种误差称为系统误差,或者称为固定误差、可测误差,它是测定结果中的主要误差来源。系统误差的特点是,这种误差在测定过程中按一定规律重复出现,并具有一定的方向性,表现为测定结果经常性偏高或偏低,增加测定次数并不能减少系统误差。正因为系统误差往往由确定的原因所造成,故它可以被认识,也可以被修正,而使系统误差得以消除或减少。
(2)随机误差
随机误差又称偶然误差或不可测误差,它是在测定过程中一些难以控制的偶然因素所引起的。所谓偶然因素,是指它对测定结果的影响变化不定,误差时正时负,时大时小,这种误差无法确定,也无法校正。随机误差在测定操作中总是不可避免的,但随着测定次数的增加,就可发现测定数据分布呈现下述规律性。
对称性。值相等而符号相反的误差出现的次数大致相等,也就是说,测定值以它们的算术平均值为中心呈对称分布。
有界性。在一定条件的有限测定值中,其误差值不会超过一定界限。
单峰性。值小的误差出现的次数多,大误差出现的次数少,特大误差出现的次数更少,也就是说,随机误差以测定值的算术平均值为中心相对集中地分布。
抵偿性。在一定条件下,对同一个量的测定,随机误差的算术平均值随测定次数的增加而趋近于零。也就是说,随机误差平均值的极限值为零。
对称性、单峰性、有界性及抵偿性,也就是随机误差所具有的基本特性。
(3)过失误差
过失误差也称粗大误差或疏忽误差。这是在能量色散型X荧光光谱仪测定过程中,由于人为的差错,使用不合格的计量器具或在不符合标准规定的条件下所产生的误差。过失误差无一定的规律性,含有过失误差的测定结果,反映其数据呈现异常偏大或偏小。只要严格地执行有关标准,在测定中仔细小心地操作,过失误差是不难避免的。