波长色散型X荧光光谱仪与能量色散X射线荧光光谱仪的区别

    虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，zui后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。  

一、原理区别  

    X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发 出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。  

二、结构区别

    波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。  能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF），一般由光源（X-线管），样品室何检测系统等组成，与波长色散型荧光光仪的区别在于他不分光晶体。

三、功能区别  

    考虑到各种情况，能量色散型荧光仪和波长色散型荧光仪的检测限基本相同。但在（高能光子）范围内能量色散的分辨率好些，在长波（低能光子）范围内，波长色散的分辨率好些。就定性分析而言，在分析多种元素时能量色散优于单道晶体谱仪。就测量个别分析元素而言，波长色散好些。如果分析的元素事先不知道，用能量色散较好，而分析元素已知则用多道晶体色散仪好。对易受放射性损伤的样品，如果液体，有机物（可能发生辐射分解），玻璃品，工艺品（可能发生褪色）等，用能量色散型荧光散型荧光仪分析特别有利。能量色散型荧光仪很适合动态系统的研究。如在催化，腐蚀，老化，磨损，改性和能量转换等与表面化学过程有关的研究。  总之，能量色散型荧光和波长色散型荧光折两种仪器，各有所有点和不足，它们只能互补，而不能替代。