联系我时，请告知来自化工仪器网

4006306902

当前位置：首页   >  产品中心   >  x射线荧光光谱仪  >  波长色散型X荧光光谱仪（WDXRF）

产品分类

PRODUCT

相关文章

ARTICLES
  • 2830 ZT马尔文帕纳科晶圆分析仪
    2830 ZT马尔文帕纳科晶圆分析仪

    马尔文帕纳科晶圆分析仪2830 ZT提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

    更新日期：2024-07-24
    访问次数：122530
    查看详情 在线留言
共 1 条记录，当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
上海市徐汇区田州路99号新安大楼13号楼101单元 4006306902 info@malvern.com.cn

版权所有©2024 马尔文帕纳科 All Rights Reserved    技术支持：化工仪器网    sitemap.xml    

管理登陆

微信扫一扫 访问手机端
Baidu
map