X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm，高40mm。X射线荧光光谱仪分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；X射线荧...

zeta电位仪的测量方法：电泳法对许多熟悉利用此法进行高分子分离的人来说，颗粒电泳也是一个类似现象。悬浮于介质中的颗粒被置于一电场中；如果带电他们会在电场产生流动，阳性颗粒朝负极流动，阴性颗粒朝正极流动。然而，颗粒并不是独自流动，他们周围会携带一薄层离子和溶剂。这一分离固定媒介与移动颗粒及其携带的离子和溶剂的界面叫做流体剪切面，而zeta电位正是这一界面的电位。因此zeta电位可以通过测量颗粒在已知电场中的流速来测定。早期的测量仪器（Rank微电泳仪）通过充满误差，慢速度的手...

马尔文流变仪的分类介绍：旋转流变仪A:控制应力型:使用多，如德国哈克(Haake)RS系列、美国TA的AR系列、英国Malven、奥地利Anton-Paar的MCR系列，都是这一类型的流变仪。前三家的产品马达采用托杯马达，托杯马达属于异步交流马达，惯量小，特别适合于低粘度的样品测试;Anton-Paar的MCR流变仪和美国TA公司的ARES采用永磁体直流马达，但从原理上响应速度快，是应力型流变仪的一种发展方向。这一类型的流变仪，采用马达带动夹具给样品施加应力，同时用光学解码器...

x射线荧光光谱仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶...

高分辨率X射线衍射(HRXRD)是一系列应用技术，用于对大多数几乎的分层结晶结构材料进行无损分析。能够揭示和量化结构参数，对于成功应用这些材料是至关重要的。目前，大多数现代半导体器件结构是在由硅、硅锗、III-V和II-VI化合物制成的基体上气相外延生长而成的。这些薄膜是几乎的晶体薄膜，具有相对较低的位错密度。薄膜性能很大程度上取决于它们的成份和结构参数。通过使用高分辨率X射线光学系统测量摇摆曲线和倒易空间图来获得诸如层厚度、成份、应力、张驰度和结构质量的信息。通过X射线衍射...